収束ビーム反射測定法(FBRM®)
FBRMは、プロセス中の粒子測定に使用される業界標準の測定技術です。高精度・高感度のコード長分布(CLD)は、粒度、形状、分布の変化に非常に敏感です。リアルタイム分析により、プロセスの変化が粒子に与える影響を直接観察できます。
FBRM®(収束ビーム反射測定法)技術に基づくParticleTrack™をプロセスに直接挿入することで、完全なプロセス濃度で粒度と分布をリアルタイムに測定できます。実験条件は一定ではないため、液滴、粒子、粒子構造を継続的にモニタリングすることにより、求める特性を備えた粒子を一貫して製造するために必要な確認作業を行うことができます。プローブベースのParticleTrack機器は、in situプロセス測定の業界標準であるFBRM技術を利用しています。
プローブベースの機器をラボ用リアクターへ直接挿入することで、完全なプロセス濃度で粒度や分布の変化をリアルタイムに追跡することができます。実験条件の変化に応じて変化する粒子、粒子形状、液滴を継続的にモニタリングできることにより、研究者は一貫した粒子を製造するために必要な知見を得ることができます。 続きを読む
柔軟性の高い取り付けシステムにより、幅広い温度範囲と圧力範囲で、一般的なフランジ、ディップパイプ、ボールバルブなどを使用してプローブをリアクター内やパイプライン内に設置できます。ATEX、Class I、Div 1規格準拠のパージ済み筐体(オプション)により、危険場所でもシステムを安全に設置することができます。 続きを読む
FBRMは、プロセス中の粒子測定に使用される業界標準の測定技術です。高精度・高感度のコード長分布(CLD)は、粒度、形状、分布の変化に非常に敏感です。リアルタイム分析により、プロセスの変化が粒子に与える影響を直接観察できます。
他の粒子特性評価手法は、オフラインのサンプル収集と手作業による調製に依存しているため、時間の遅れやサンプリングエラーが発生し、プロセス開発が複雑になります。
ParticleTrackのプローブをリアクターまたはプロセスの流れに直接挿入することで、粒度と分布の傾向をin situで継続的にモニタリングし、プロセスを即座に理解することができます。この情報を活用することで、自信を持ってプロセスを迅速に改善できます。
製品品質とダウンストリーム精製プロセスの性能は、結晶、粒子、液滴の生成に使用するパラメータの影響を直接受けます。ParticleTrackを使用すると、これらのパラメータを粒子メカニズムに直接リンクできます。プロセスパラメータが核形成、成長、凝集、破砕、形状変化などの粒子メカニズムに与える影響を理解することで、プロセスのリスクを回避し、より優れた粒子をより迅速に製造できます。
開発、スケールアップ、製造時のプロセスパラメータの影響を特性評価することで、エビデンスに基づく方法を使用し、高品質の粒子製品をより迅速かつ低コストで市場に提供できます。
最適なプロセスパラメータは、結晶、粒子、液滴を含むすべてのプロセスに固有のものです。ParticleTrackを使用することで、研究者やエンジニアは粒子を効果的に特性評価し、プロセスパラメータを設計することで、希望の粒度と分布の粒子を一貫して提供できます。
ATEX認証済みのParticleTrack G600EXによってラボの結果と直接リアルタイムで比較できるため、研究者やエンジニアは製造プロセスをモニタリングし、最適化して、高品質の製品を一貫して提供することができます。
パイロット/製造向け
ParticleTrackとiC FBRM™ソフトウェアはEasyMaxとiControl™にシームレスに統合されているため、実験の設計が簡単になります。実験で粒度分析をラマン分光法やFTIR分光法と組み合わせることで、研究者は安心してiCソフトウェアにデータをオーバーレイし、答えを得て粒子の開発を加速することができます。
プロセスパラメータが濃度、粒度、形状、構造に与える影響を厳密に理解することで、より適切な意思決定、プロセスリスクの排除、問題解決をすばやく行うことができます。
簡単に言うと、G400モデルとG600モデルは、さまざまなプロセス環境を念頭に置いて設計されています。ParticleTrack G400はラボでのアプリケーションに最適で、 G600モデルはパイロットプラントやプラントの運用に適しています。
お客様のアプリケーションに最適なモデルがわからない場合は、今すぐお問い合わせください。
FBRM™(収束ビーム反射測定法)は、プロセス中粒子測定に使用される測定技術です。高精度・高感度のコード長分布(CLD)は、粒度、形状、分布の変化に非常に敏感です。
このプローブはプロセス流に特定の角度で配置されるため、粒子は測定が行われるプローブウィンドウを横切って自由に流れます。光学系を介してレーザービームがプローブチューブに送られ、サファイアウィンドウに焦点が合わせられます。光学系は一定速度(通常は2 m/秒)で回転します。これにより、粒子がウィンドウを通過するときにビームスポットが粒子をすばやく掃引します。
収束されたビームが粒子系を横切るときに、個々の粒子または粒子構造がレーザー光を後方散乱します。これらの個別の後方散乱光パルスが特定・カウントされ、各粒子の距離は、各パルスの継続期間にスキャン速度を掛けることで計算されます。
粒子と粒度との関係を示す重要な指標であるコード長を使用して、この距離を決定します。通常1秒あたり数千もの粒子を計数・測定することができるため、正確に、きわめて高い感度でリアルタイムにコード長分布を報告できます。
コード長の分布は、手順の開始から終了までの粒度と分布の変化をグラフ化したものです。各コード長分布から、細かい粒度クラスと粗い粒度クラスのカウントなど統計の変化をグラフ化することができます。