X52 X-ray Inspection System
Phát hiện chính xác, toàn diện và tối ưu.Hệ thống kiểm tra bằng tia X năng lượng kép cao có khả năng phát hiện vượt trội các tạp chất mật độ thấp, khó tìm trong nhiều ứng dụng. Có sẵn cấu hình tiêu chuẩn và tùy chỉnh
Phát hiện các tạp chất khó tìm thấy
Có khả năng phát hiện các chất gây ô nhiễm khó tìm thấy trong nhiều ứng dụng khác nhau. Cho phép kiểm tra sản phẩm phức tạp một cách rõ ràng và chính xác.
Tăng cường chất lượng sản phẩm
Đem đến chất lượng sản phẩm vượt trội nhờ khả năng phát hiện nâng cao chất ngoại lai đối với các chất gây ô nhiễm mật độ thấp ở các sản phẩm đặt chồng lên nhau.
Tăng năng suất
Thiết kế thông minh kết hợp với giao diện người dùng trực quan đem đến các hệ thống thân thiện với người dùng giúp tăng thời gian hoạt động và tăng năng suất.
Material No.: 30541251900