無駄のない研究室アプローチで計量エラーを最小限に抑えます。First-Defect-Stopガイドをダウンロードしてください。 |
無駄のない研究室マネジメントの原則は、品質と効率を向上させる目的で、ますます多くの研究所で採用されています。重要な側面の1つに「自働化」があります。これはプロセスで欠陥が検出されるとマシンまたはオペレーターが自動的に生産を停止できることを意味する、日本のリーン生産用語です。この原則を無駄のない研究室に適用すると次のことが行われます:
- 問題が検出されるとすぐにプロセスを停止(エラーがワークフローで伝搬されるのを防ぐため)
- 問題をすばやく修正(遅延を防ぐため)
- 問題の根本原因の調査
- 同じ問題が再発するのを防ぐための措置の履行
問題が検出されたら、「First-Defect-Stop」手順を開始する必要があります。First-Defect-Stopの目的は、研究室の技術者がプロセスの停止、問題の特定、問題の解消を10分以内にできるようにすることです(例:チェックリストの使用)。問題をすばやくまたは簡単に解決できない場合は、問題を上のレベルで処理する必要があります(例:スーパーバイザまたはサードパーティのサービスプロバイダに通知)。
最終的な目標はもちろん、問題を一旦解決するだけでなく、原因に対処して排除し、同じ問題が繰り返し発生しないようにすることです。問題の根本原因を何度も無視することは無謀なことです。単純にこれは非効率であり、下流工程に更なるエラーを引き起こし、不正確な結果、低い再現性をもたらし、リードタイムが長くなるからです。
このFirst-Defect-Stopガイドは、設定時間が長い、測定値が不安定であるなど、研究室の天びんに特有の問題を特定するために役立つように設計されたトラブルシューティングツールです。問題の特定後には、環境、サンプル、メソッド、機器などによって引き起こされる根本原因を分析します。 また、この問題の再発を防ぐために行うことができる手順についてのアドバスを、手順ごとのガイダンスで提供します。
1. 問題の特定
2. 設置に関する注意(アンドン)
3. 問題の評価
4. 影響の緩和
5. 原因の分析
6. 今後の対策
無料ガイドをダウンロードして、ラボの計量エラーに対処しましょう!
「アンドン」も日本のリーン生産用語の1つで、スタッフに品質またはプロセスの問題について警告するように考案された、視覚的な信号またはシステムを指します。この問題の視覚化メソッドもラボに導入できます。たとえば、メトラー・トレドの最新世代の天びん(XPR/XPEシリーズ)は、この原則をサポートするステータスライト機能を備えています。
3. 最適な場所:作業環境の準備 | ||
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3.1. 問題の特定 | ||
3.2 設置に関する注意
| 3.5 原因の分析
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3.3 問題の評価
| 3.6 今後の対策
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3.4 影響の緩和
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9. 計量ワークフロー:調整 | ||
9.1 問題の特定: | ||
9.2 設置に関する注意
| 9.5 原因の分析
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9.3 問題の評価
| 9.6 今後の対策
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9.4 影響の緩和
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