帶有非接觸式感測器的分析天平是一種精密稱量儀器,它結合了分析天平的準確性和免提操作的便利性和衛生性。梅特勒-托利多提供一系列強大的分析天平,可實現可定製的非接觸式使用,最大限度地降低交叉污染風險,防止不必要的天平殘留,同時保持最高水平的準確度和樣品完整性。
通過購買梅特勒-托利多天平,您可以從我們廣泛的服務中受益,並創建適合您精確需求的定製套餐。 瞭解更多
得益於巧妙的設計功能,例如快速釋放的防風罩和懸掛式秤盤,分析天平的清潔既快速又簡單。 瞭解更多
使用我們的EasyDirect™天平數據管理軟體,用於高級和標準級分析天平,簡化結果處理和記錄。 瞭解更多
一系列防靜電套件和附件,用於檢測和消除樣品和稱量容器中的靜電荷。 瞭解更多
有關如何執行常規天平測試的免費指南。瞭解多久測試一次,如何測試,以及使用哪些砝碼來確保正確的平衡功能。 瞭解更多
本指南將説明您了解影響稱量準確度的主要因素,以及如何通過避免使用實驗室天平時的基本錯誤來獲得可靠的稱量結果。 瞭解更多
梅特勒-托利多制定了全球公認的良好稱量管理規範 ™ (GWP®) 標準。只需 3 個簡單步驟即可瞭解其工作原理。 瞭解更多
天平校準和不確定度評估是測量精度的關鍵。然而,天平測試和校準是一項高度可變的活動,取決於各個過程允差以及結果不準確的潛在負面影響。 瞭解更多
梅特勒-托利多為您提供量身定製的服務解決方案,不受行業、環境和法規的影響。 瞭解更多