分析天平

分析天平又称半分析天平，是一种高度精确测量质量的实验室分析仪器，其可读性通常为 0.1mg （小数点后四位）或更小。分析天平有一个高灵敏度的称重单元，因此内置了一个防风罩，以保护样品和容器免受空气流动的影响，因为空气流动会导致不稳定和结果不准确。梅特勒-托利多的分析天平称重范围从 22 克到 520 克，可读性从 0.001 毫克到 1 毫克。

现代分析天平通常配备各种功能和特性，以帮助保持准确性和改善称重人体工学，例如内部测试和调整、直观的带触摸屏的操作、质量保证和电动门。梅特勒-托利多的分析天平还可以连接到专用的数据管理软件，如 EasyDirect 和 LabX™。我们的 XPR 分析天平还具有 StaticDetect™ 功能，可自动评估因样品和容器上的静电荷而产生的称重误差，并在误差超过预定限值时发出警告。XPR 分析天平还可轻松升级为自动配粉器和自动液体分配器。分析天平提供 USB、RS232 和 LAN 等连接选项，可实现结果的数字化传输，方便天平与各种外围设备、附件和数据系统连接。

梅特勒-托利多分析天平的称重原理基于电磁力补偿。天平外壳内的称重单元对放置在秤盘上的物体产生一个抵消电磁力。分析天平将该补偿电磁力的大小解释为物体的重量。结果以适当的单位（克、毫克、微克等）显示在天平终端上。

分析实验室天平（0.1 毫克可读性或更小）的称重秤盘放置在一个防风罩内，可保护样品和容器免受天平气流等外部环境的影响，提高总体称重性能。这一点在分析称重中尤为重要，因为称重结果的准确性至关重要。

分析天平可用于简单的称重应用，也可用于标准和样品制备、配方、密度测量、滤纸称量等。

称重前，首先要检测天平是否水平。如果标准操作程序 (SOP) 有此要求，则可能需要进行天平调整。

• 要开始称重程序，首先按下归零按钮。这将为您提供一个零点，作为称重过程的起点。
• 打开防风罩门，将目标容器（有时称为皮重容器）放在秤盘上。如有必要，记得戴上手套或使用镊子。
• 关闭防风罩门，等待容器的重量值稳定下来。皮重容器的重量现在显示在显示屏上。
• 现在按下去皮按钮。天平将记录皮重容器的重量，显示屏将再次显示零点（注意，这与零点不同）。
• 开始添加样品，直至达到所需的目标重量。
• 关闭防风罩门。一旦天平稳定下来，就会显示重量结果。
• 天平现在已经记录了皮重容器的重量和样品的重量。如果打印出结果，重量值将以 T 表示皮重，N 表示净重，G 表示毛重。
• 称重结束后，确保按照 SOP 清洁天平和天平周围的工作台。如果在清洁时拔掉了仪器的电源插头，则在重新使用之前要留出时间让仪器再次预热。

如果是称重物品，而不是将样品定量放入容器中，只需将天平归零，然后将物品放在秤盘中央。请在我们的免费指南中阅读更多内容：称重的正确方法

清洁分析天平对用户安全和避免交叉污染影响结果准确性非常重要。此外，对分析天平的良好维护还能延长其使用寿命。

分析天平的称重秤盘、滴水盘、外壳和终端都可以用纸巾清洁。您的分析天平由高质量的耐用材料制成，可以用市面上的温和清洁剂和清洁剂（如 70% 的乙醇或异丙醇）进行清洁。请勿使用丙酮清洁分析天平，因为丙酮与塑料手柄、胶粘零件和端子不兼容。

如果您的 SOP 中没有规定，建议您根据使用情况至少每周或每月清洁一次分析天平。在许多实验室，建议每天对分析天平进行检查。在称重有毒样品的情况下，每次称重后都应立即清洁分析天平。

梅特勒-托利多的所有分析天平型号都具有便于清洁的功能。

MS 型分析天平可通过 QuickLock 将天平防风罩从分析天平外壳上完全轻松地拆卸和组装，无需使用任何工具。这使得 MS 型分析天平不仅易于清洁，而且易于运输到狭窄的空间。

在 XPR 分析天平上，滴水盘和所有防风罩零件等易于拆卸的部件简化了清洁工作，无需使用任何工具。这些部件只需用洗碗机清洗即可。

要了解有关如何清洁分析天平的更多信息，请查看我们的《天平清洁指南》。

归零功能为您提供一个零点，让您开始称重过程。如果您使用的是较重的秤盘（例如带有 ErgoClip 的秤盘），或者秤盘上可能有保护垫，那么归零功能实际上会忽略这一点，因为称重单元已经识别的任何重量都不会计入称重过程。但是，天平上的任何重量仍然会影响您能够放在天平上的最大负载（即天平容量）。

使用去皮功能时，天平会在内部记录称重天平秤盘上已有的重量，并将显示屏重置为零，以便随时向天平上添加其他重量。当以电子方式记录结果时，将以 T 表示皮重，N 表示净重，G 表示毛重。

分析天平（通常简称为 "实验室天平"）可以分析各种样品。 需要使用电子分析天平的客户特定应用包括

• 样品/标准制备
• 配方
• 差分称重
• 密度测定
• 间隔称重
• 移液器常规测试
• 元素分析
• HPLC（高效液相色谱法）
• GCMS（气相色谱-质谱法）
• 灌装和喂料的计量和分配

分析天平可用于制药和生物技术、化工、食品、学术界、金属和塑料等各行各业的普通实验室、研发和质量控制实验室。

选择合适的分析天平非常重要。准确称重的意义不仅仅在于天平显示屏上的数字。只有了解您的工艺风险、公差、质量要求和相关法规，才能选择为您提供必要准确度水平的天平。天平的性能必须同时满足内部精度要求和任何外部规定。您的分析天平必须适合其预期用途；否则，所有称重结果和使用这些称重结果的任何后续过程都将被视为无效。

梅特勒-托利多的免费GWP^® 推荐服务旨在帮助您选择适合您特定工艺设备和精度要求的仪器。它考虑了以下关键因素：

• 最大重量：您称重的最大载荷（包括皮重容器）
• 最小净重：称重的最小载荷（不包括皮重容器）
• 称重公差：可接受的称重误差，以 ± 百分比表示
• 安全系数：该系数应用于天平最小重量，以补偿外部影响，如振动、气流、不同操作员等。

GWP^® Recommendation 也可用于确定所安装的天平是否适用。

有几种方法可以处理来自分析天平的称重数据。

可以选择将称重结果从分析天平手动传输到实验室日志和其他工具中进行计算或进一步使用。使用打印机和其他配件（如条形码阅读器）可以增强手动方法。通过下面的视频了解如何将 USB 条形码阅读器与 MS-TS 分析天平一起使用。

为了消除手动错误，梅特勒-托利多分析天平可以通过 USB 和以太网等各种接口轻松连接到 PC 或其他梅特勒-托利多分析仪器，以进行数字化数据采集和存储。

请观看以下视频，了解如何将 MS-TS 分析天平连接到以太网和无线网络。

标准和高级分析天平系列可与EasyDirect 称重天平软件连接，该软件可从多达 10 台分析天平收集称重数据。

卓越型分析天平可将结果直接导入个人电脑，并可通过滴入光标和兼容LabX™ 数据管理软件实现优化和完全数字化的工作流程。LabX 具有集中的仪器和任务控制、用户指导和结果安全存储功能，可提高效率、提供可追溯性并有助于满足监管要求。

梅特勒-托利多分析天平可以为您提供简单的数据传输支持，而无需额外的软件。首先，使用 USB 电缆将分析天平连接到 PC。

• 在我们的卓越级分析天平上，激活 HID（滴到光标）功能。现在，只需在天平显示屏上按下 "添加结果 "键，称重结果就会直接传输到 Excel 电子表格或 Word 文档中。
• 在我们的高级和标准称量天平上，激活 PC Direct 并按下 "打印 "即可将称量结果传输到 Excel 电子表格或 Word 文档中。

使用专用软件增加了数据管理的可能性：

• 对于高级和标准级分析天平，我们的EasyDirect软件提供扩展的结果管理功能，包括CSV文件导出、统计计算和结果审查。
• 对于我们的卓越级分析天平，LabX™ 实验室软件提供先进的数据管理和结果分析功能。LabX 是集中管理数据、任务、仪器和用户的强大解决方案。LabX 还有助于符合美国联邦法规第 21 卷第 11 部分和 ALCOA+ 数据完整性要求。

分析天平与微量天平的显著区别之一是可读性的小数位数。梅特勒-托利多分析天平的可读性范围为 1mg 至 0.001mg。典型应用包括样品制备和标准称量、差量称重、密度测定等。

梅特勒-托利多的微量天平和超微量天平在所有实验室天平中精度最高，可读性达到 1 µg（小数点后六位）和 0.1 µg（小数点后七位）。典型应用包括微粒物质（滤纸）称量、移液器校准、农药残留检测和支架称重。

更多的差异体现在更高的重复性和结构上。微量天平有一个小的圆柱形称量室和一个额外的天平显示屏，在称量非常小的样品时有助于符合人体工程学。

所有梅特勒-托利多分析天平都是电子天平，但并非所有电子天平都是分析天平。电子天平是将样品重量转换为电信号的任何现代天平。包括分析天平在内的电子天平都配有称重传感器，并使用某种形式的电子补偿。对于分析天平来说，这种技术的一个例子就是电磁力补偿。

校准是对天平性能的评估。是否需要校准分析天平取决于天平的使用地点以及是否有任何适用的规定。同样重要的是，与校准砝码的成本相比，要考虑出现错误砝码结果的风险和成本影响。

在受监管的环境中，校准是一项要求，因为它可以确保天平的性能符合预期。分析天平校准可确保称量设备符合 ISO、GLP/GMP、IFS 和 BRC 等标准。

当必须获得高度精确的称重结果时，选择不校准分析天平可能是一种高风险策略。在这种环境下，使用未经校准的设备可能会导致生产问题，例如

• 计划外停机
• 产品质量下降
• 流程和审计问题
• 产品返工和召回

分析天平校准不应与常规测试混淆。校准由授权服务技术人员执行，而例行测试则由仪器用户执行。如果执行得足够频繁，常规测试有助于及早识别潜在的超出公差的结果。

点击此处了解更多天平校准信息。

分析天平校准应由授权服务技术人员按照标准程序进行。服务技术人员通常会使用专用软件来支持这一过程，并提供校准证书。记录在案的分析天平校准对于用于制药和生物技术等监管环境至关重要。

校准包括根据测量标准评估分析天平的性能。这涉及多项测试，包括将天平上的显示仪与放在秤盘上的校准砝码的已知值进行比较。技术人员可以通过明确的合格/不合格声明确认天平是否符合要求。

天平校准应根据工艺风险（即称重结果不正确的负面影响有多大）来进行。在两次校准之间，分析天平应由用户定期进行测试，以确保持续获得准确的结果，并及早发现任何潜在问题。

梅特勒-托利多的良好的称量管理规范 (Good Weighing Practice™)，或称 GWP^® ，是称量设备安全选择、操作和校准的全球科学标准。

每次测量都存在一定程度的不确定性。测量的不确定性是由随机误差和系统误差造成的，前者如用户或环境造成的误差，后者如每次使用仪器时仪器性能固有的微小变化造成的误差。

每次用分析天平称重，结果都会有一定程度的不确定度。这种不确定性应与结果一起公布。如果不确定度过高，您可能无法相信结果。在称重范围的低端，相对测量不确定度要大得多，因此在称量小量时必须小心。

本指南解释了天平的安全称重范围。

分析天平称重错误可以通过以下方法避免：

• 确保分析天平适用于各种用途
• 实现分析天平的正确安装和鉴定
• 正确处理分析天平
• 遵循具体的质量保证计划

分析天平上的称重误差通常是由于振动、气流或静电荷等外部影响造成的。有关分析天平上的静电荷和梅特勒-托利多解决方案的更多信息，请参阅"静电对分析天平的影响是什么？"和"如何消除静电荷？"，并参见《静电和称重指南》。

分析天平的测量不确定度是通过评估天平灵敏度、非线性度、偏心率和重复性来确定的。良好的测量实践是在安装时和安装地点确定测量不确定度，并在每次天平服务/校准期间对其进行重新评估。如果不宣布测量不确定度，就不能认为分析天平上的任何测量是准确的。

每个分析天平的最小称重都不一样，它取决于称重传感器的性能、称重传感器的位置、环境条件以及所要求的称重精度。最小砝码是仪器的精度极限，低于这个最小砝码，相对测量不确定度大于所要求的称量精度，称量结果不可信。 相对测量不确定度是用绝对称量不确定度除以砝码来确定的，通常用百分比来表示。

为了确定天平的最小砝码，需要对工作环境中的测量不确定性进行评估。另外，重复性是天平低量程误差的主要来源，可以通过使用小砝码（低于天平容量的 5%）来评估重复性，以确定最小砝码。

梅特勒-托利多分析天平的 MinWeigh 功能由经过认证的技术人员执行，可监控加入天平的样品重量。如果样品重量低于确定的可接受最小重量值，天平显示屏将变为红色，重量值将不会显示。

精度是指在相同测量条件下获得的两个或多个测量值之间的接近程度。精密天平重复性测试可用于评估精密度，该测试可确定测量系列的标准偏差。

真实度是指测量值与公认真实值之间的接近程度。就分析天平而言，天平显示屏上显示的砝码值与校准测试砝码的公认真实值进行比较（天平灵敏度测试）。

分析天平要称重准确，称重结果必须接近施加砝码的真实值，对同一物体的重复称重必须几乎没有散差。准确度要求真实和精确。

静电会导致称重结果不稳定、不可重复。静电会导致秤盘受力，直接影响分析天平的称重结果。静电荷是称量误差的最大隐患之一，因此能够识别称量过程何时可能受到影响非常重要。静电荷影响称重天平的迹象是天平读数不稳定和读数向一个方向漂移。在这两种情况下，天平可能无法稳定，或者您可能需要等待比正常时间更长的时间才能得出重量结果。您也可能遇到过不得不向容器中添加越来越多的粉末才能达到目标重量的情况。但是，如果您的样品或容器没有相对快速地消散电荷，您的结果可能会在不知不觉中出现误差。误差可能从几毫克到 100 毫克不等。

梅特勒-托利多 XPR 分析天平具有独特的 StaticDetect™ 功能，可自动评估由于样品或容器上的静电荷而导致的称重结果误差。如果误差超过预先设定的限值，StaticDetect™ 会发出警告。

阅读我们的免费白皮书：称重过程中的静电荷

只要有可能，就应采取预防措施，减少或消除样品和称重容器上的静电荷积聚，以避免出现任何错误、不稳定或令人沮丧的称重结果发布缓慢的情况。减少静电的一些预防措施包括

• 确保足够的空气湿度（≥ 45）
• 使用抗静电称重容器（金属容器最为理想）
• 避免摩擦容器
• 使用高边金属盘，帮助样品屏蔽电场
• 称重前用电离器对样品和容器放电

梅特勒-托利多 XPR 分析天平集成了获得专利的 StaticDetect™ 传感器，可自动检测样品和/或其容器上的静电荷。天平测量称重误差，并在超出用户定义的限值时发出警告。离子发生器与 StaticDetect 的同步操作可自动消除被称重物体上的静电荷。

单击此处阅读有关静电荷及其背后物理原理的更多信息。

梅特勒-托利多的 XPR 分析天平可选配液体分配模块。这种实验室液体分注器可将液体直接分配到 XPR 分析天平称重秤盘上的容器中。通过使用液体的密度和环境温度，液体的重量被解释为体积。 XPR 自动实验室液体分注器的优势在于，在配制所需浓度的溶液时，可以根据物质的实际分注量添加精确的液体分注器，从而配制出高度精确的溶液。

分析天平的量程是该天平可称重的最大量值，即称重范围，也称重天平容量。在选择分析天平时，应仔细考虑可能要称重的最大量值，包括皮重容器的重量。 200 克分析天平是一种常见的选择，它可以在相对较大的容器中称重较小的样品。 如需了解更多信息，请参考"如何快速识别分析天平的容量？

分析天平最常见的容量是 200 克，但也有许多型号可供选择。梅特勒-托利多分析天平的容量从 22 克到 520 克不等，多出的克数是为了考虑到皮重容器的使用。不过，分析天平是根据其可读性来定义的，其可读性必须达到小数点后 4 位（0.1 毫克）或更高。在梅特勒-托利多分析天平上，型号名称中的数字提供了容量的指示，最后一个数字指定了可读性的小数位数。例如，XPR205 是 200 g 分析天平（实际为 220 g），可读性为小数点后 5 位（0.01 mg），MX104 是 100 g 分析天平（实际为 120 g），可读性为小数点后 4 位（0.1 mg）。

型号名称 XPR226CDR 中的 C 表示这是一款比较分析天平。XPR226CDR 是一款高性能分析天平，因其极高的精确度而被特别选中。它是质量测定实验室和砝码校准服务提供商进行高精度质量测量应用的首选仪器。在这些应用中，砝码与参考砝码进行比较，因此被称为比较天平。不过，它们也可用于需要高精度的分析天平应用。

分析天平的最大称重量受限于天平的容量。梅特勒-托利多分析天平的容量从 22 克到 520 克不等。我们的所有分析天平都具有过载保护功能，以保护敏感的称重传感器在天平上掉落物品或施加过量称重时免受损坏。如果超过最大负载，则会发出警告。可在分析天平上称重的最小量取决于多种因素，包括所需的过程公差/精度。请参考"什么是分析天平的最小砝码？"这一问题。

分析天平气泡通常是一个小玻璃球，放置在天平的某个位置，里面有液体和气泡。分析天平气泡用于调平天平。调平分析天平对确保结果准确非常重要。您的分析天平的精密称重是在水平位置运行的，这样称重单元就可以记录放置在其上的任何物品的全部重量。如果您的分析天平不水平，砝码值就会偏离真实值，偏离程度与倾斜角的平方成正比。俯视天平气泡时，气泡应位于中央。如果气泡不在中心，可以通过旋转天平脚来调节水平，直到气泡回到中心位置。

梅特勒-托利多卓越级和高级水平分析天平结合了图形水平指导，可显示需要向哪个方向转动哪个天平脚以及转动的幅度，因此只需几秒钟就能轻松地将天平调至完美水平。我们的许多分析天平甚至不再使用物理平衡泡。

在大多数梅特勒-托利多分析天平上，您可以在天平的前部靠近显示屏的位置找到水平气泡。在较老的分析天平型号上，水平气泡位于天平的右侧，靠近天平的后部。不过，我们的许多较新型号的分析天平都具有电子水平仪，并带有屏幕水平仪指南，因此不再需要物理水平仪气泡。

分析天平可细分为分析天平和微量分析天平。根据定义，分析天平必须至少有小数点后 4 位或更多的可读性（0.1 毫克或更小）。分析天平可以在相对较大的容器中称重少量物品。梅特勒-托利多的微量分析天平具有小数点后 6 位的可读性（0.001 mg 或 1mg分析天平），由于称量单元的灵敏度较高，它们具有第二个内天平防风罩，因此悬挂的称重秤盘较小。32 克和 52 克的天平容量低于分析天平。

微量天平偶尔会与分析天平放在一起。但是，梅特勒-托利多将它们分开分类，因为它们的可读性更高，至少有小数点后 6 位（1 微克），容量仅有几克，而且天平结构不同。这些天平通常用于称量量极小的高精度应用，例如称量滤纸上的微粒物质和贵金属测定。

分析天平与其他类型的天平在精度、可读性、容量以及设计上都有所不同。

分析天平（左）和精密天平（右）：

与精密天平相比，分析天平具有更高的可读性（从 1mg 到 0.001mg 不等）和高灵敏度的称重单元。因此，分析天平能够称量非常小的样品，而且精度极高，称量范围从 22 克到 520 克不等。分析天平始终配有天平防风罩，可保护样品和容器免受空气流动的影响，并保持环境稳定。分析天平通常用于实验室样品制备、配制、差称重、密度测定、常规使用移液器测试以及其他用途。

更多信息，请参阅问题"天平有哪些类型？

梅特勒-托利多提供各种天平：

1. 超威量天平
   • 可读性： 0.5 µg - 0.1 µg (0.0005 mg - 0.0001 mg, 0.0000005 g - 0.0000001 g)
   • 小数位数： 7
   • 最小重量（5% 负载，k=2，U=1%）： 低至 30 µg (0.03 mg)
   • 牵引屏蔽类型： 圆形
   • 容量范围： 2.1 克 - 6.1 克
2. 微量天平
   • 可读性： 1 微克（0.0001 毫克，0.000001 克）
   • 小数位数： 6
   • 最小重量（5% 负载，k=2，U=1%）： 低至 82 µg (0.082 mg)
   • 防风罩类型： 圆形
   • 容量范围： 2.1 克 - 10.1 克
3. 微量分析天平
   • 可读性：1 µg (0.0001 mg, 0.000001 g)
   • 小数位数： 6
   • 最小重量（5% 负载，k=2，U=1%）： 低至 120 µg (0.12 mg)
   • 防风罩类型： 矩形外罩 + 第二矩形内罩
   • 容量范围： 32 克 - 52 克
4. 分析天平
   • 可读性： 1000 微克 - 1 微克（1 毫克 - 0.001 毫克，0.001 克 - 0.000001 克）
   • 小数位数 4-6
   • 最小重量（USP，0.1%，典型值）： 1,4 毫克
   • 防风罩类型： 矩形
   • 容量范围： 22 克 - 520 克
5. 精密天平
   • 可读性：1,000,000 微克 - 100 微克（1,000 毫克 - 0.1 毫克，1 克 - 0.0001 克）
   • 小数位数： 0-4
   • 最小重量（USP，0,1%，典型值）： 120 毫克
   • 防尘罩类型： 无/矩形，小数点后 3 位和 4 位可读
   • 容量范围：120 克 - 64 千克

为确保您为自己的应用选择正确的天平，梅特勒-托利多制定了全球称量标准，即良好的称量管理规范™ (GWP^®)。我们的免费GWP^® 推荐服务可帮助您选择符合特定应用需求和过程精度要求的正确天平。

秤分度d 是测量秤上可能的最小增量。在分析天平上，d等于天平的可读性，即可以确定的最小重量差。这不应与天平的最小重量相混淆。校验天平秤的砝码分度e 与贸易结算天平分析天平有关，与直接销售交易中砝码结果可使用的最大小数位数有关。例如，在e = d 的情况下，可使用天平的可读性给出直接销售交易中的重量。因此，如果d是 0.001 g，所有重量结果都可以精确到小数点后 3 位。在e=10d和d= 0.001 g 的情况下，重量结果只能显示到小数点后 2 位，即 0.001 g x 10。在这种情况下，在分析天平的显示屏上，您可能会看到用括号括起来的重量结果的小数点后第三位，例如 2.67(3) g。

样品越少，分析的成本和资源密集程度就越低。通常只有少量样品可以在分析天平上称重。以下是称重少量样品时应遵循的几个简单提示：

• 在称量少量样品之前，请确保您拥有适合您的应用的设备，请参阅"什么是分析天平的最小重量？"和 "如何为我的称量应用选择合适的分析天平？"。考虑使用自动天平或微量分析天平来获得更高的精度，或者使用微量分析天平直接将小样品称重到相当重的皮重容器中。
• 减少测量误差 - 样品越小，相对测量不确定性就越高。为了减少误差，请在实验室中为天平选择理想的位置，"如何避免分析天平称重误差？"
• 尽可能将小样品直接称重到皮重容器中，避免在转移过程中摸索称重纸和材料损失。
• 使用正确的工具将在速度、准确性和人体工学方面改善您的称重体验。下载天平称量配件手册，了解它在优化和简化小样称重方面的所有功能。
• 您的梅特勒-托利多分析天平是一款功能强大的分析仪器，可以帮助您称重小样品。内置的质量保证功能（如状态指示灯和水平导引器）可帮助您在第一时间获得正确的结果。小样品的相对测量不确定性较高。静电是造成称重误差的主要原因之一。使用 XPR 分析天平，您可以量化静电荷造成的称重误差，并通过可选的集成电离器自动消除静电荷。
• 精确的重量测定对小样品至关重要。除分析天平外，梅特勒-托利多还提供自动和机器人称重系统。这使您可以最大限度地减少变异性，并实现人工配料无法比拟的精确度。点击此处了解更多信息：自动天平 | 自动配粉器和自动液体分配器

分析天平的精确度可以通过测试其重复性来检验，重复性是指在相同条件下对相同物体重复获得的砝码值的标准偏差。精确的分析天平所给出的数值既真实又精确（参见 "什么是分析天平的精度，什么是分析天平的准确度？有什么区别以及如何测试？"）。真实度或显示值与实际施加砝码的接近程度可以通过灵敏度测试来验证。在低负载时，可重复性是造成分析天平测量误差的最大因素，因此数据表上的这一规格至关重要。例如，XPR205 分析天平在 5% 负载下的典型重复性低至 7 µg。要推导出这种分析天平可称重的最小重量，请参阅"什么是分析天平的最小重量？

分析天平的性能是指它在实验室环境中提供精确和精密测量的能力。以下是通常要考虑的一些关键性能方面：

• 准确度：准确度是指测量值与真实值的接近程度。分析天平应能提供高度精确的测量。这意味着测量的重量应与被测样品的实际重量密切相符。
• 精度：精度与测量的重复性或再现性有关。它是指在相同条件下多次称重同一样品时结果的一致性。高精度的分析天平将提供变化极小的一致读数，表明随机误差水平很低。重复性是指在相同条件下多次称重同一样品时结果的接近程度。它评估的是测量结果的一致性，表明天平在多大程度上能够再现结果。重复性好的天平可以始终如一地为同一样品提供相似的读数。
• 灵敏度：灵敏度是指天平能够检测并准确测量的最小砝码变化。它代表天平能够辨别的最小重量增量。灵敏度更高的天平可以检测到更小的重量变化。
• 可读性：可读性是指天平读数器上可显示的最小增量。它表示测量的详细程度或分辨率。可读性较高的天平可以显示较小的重量差异。
• 线性度：线性度描述了天平在整个称重范围内提供精确测量的能力。它显示天平在作用力（砝码）和输出结果（读数）之间保持线性关系的程度。线性度出色的天平可以在整个指定量程内提供精确的测量。
• 稳定性：稳定性是指天平在一段时间内保持稳定测量的能力。稳定的天平即使以不同的间隔称重，也会对同一样品产生相似的读数。这种稳定性对于确保测量的可靠性和一致性非常重要。
• 称重时间：称重过程所需的时间在不同的分析天平之间会有很大差异，通常希望称重时间更快。为了最大限度地缩短称重时间，梅特勒-托利多 XPR 和 XSR 分析天平采用了称为 SmartGrid 的网格结构悬挂式秤盘。与传统秤盘相比，它减少了秤量室中气流的表面积，从而加快了稳定时间和结果的可用性。

此外，XPR 分析天平还配备了主动温度控制技术，以提高温度稳定性。

经批准的分析天平，也称作合法贸易分析天平，是指符合 OIML R76 中定义的 "非自动称重天平仪器 "的当地法定要求的分析天平。对于经认可的分析天平，净称重结果必须符合更高级别的控制器。认可天平 "一词包括合法贸易（LFT）天平、认证天平和注册天平。

认证天平支持消费者保护和公平贸易，在以下情况下可能需要使用认证天平：

1. 在某些国家，所有余额都需要经过批准
2. 基于重量的金融交易（如超市中的蔬菜）
3. 基于重量的制药或医疗应用（如用于药物制剂的天平）
4. 在需要精确确定数量的法庭上（如非法药物的质量）

合法的贸易分析天平或经认可的分析天平很容易识别。在梅特勒-托利多，认证型号有特定的型号名称：XPR205 不属于认证型号，但 XPR205/A、XPR205/AC 和 XPR205/M 属于认证型号。后缀字母如 A、AC 和 M 取决于分析天平的使用地区。同样的原则也适用于其他梅特勒-托利多分析天平型号（XSR、MS、ME 和 ML-T）。

根据 OIML R76-1，仪器的描述性标记在型号标签（和类型标签）上：

• Min：最小容量
• Max：最大容量
• e：校验秤盘间隔（参见"什么是秤盘分度 (d) 和校验秤盘分度 (e)？
• d：实际秤盘间隔

此外，您还可以通过检查分析天平在制造后是否被密封来识别经核准的分析天平型号。这样可以防止分析天平被打开和被未经授权的人篡改。

第一步是设计分析天平，考虑到所需的规格，如最大容量、可读性和准确性。这需要精心设计，以确保天平能够提供可靠、一致的测量。所有梅特勒-托利多分析天平均在瑞士按照严格的技术进行设计。我们的分析天平的制造过程遵循以下关键步骤：

• 生产和组装：分析天平的制造过程采用优质材料。
• 校准和测试：分析天平经过严格的校准和测试程序，以确保其精度和准确性。这包括将天平的读数与已知的标准砝码进行比较。
• 质量控制：在整个制造过程中，都会实施严格的质量控制措施，以确保每台天平都符合规定的标准。这包括各种检查、功能测试和性能参数验证。

这些是分析天平的主要组成部分：

• 框架和外壳：天平的框架和外壳通常由金属、塑料和玻璃等材料组合而成。框架提供结构稳定性，而外壳则保护内部组件免受灰尘、气流和电磁干扰等外部因素的影响。
• 称重机构：称重机构是分析天平的核心。它通常由一个放置样品的秤盘或平台、一个用于测量重量的称重传感器或平衡机构以及一个用于信号处理的电子电路组成。称重传感器将样品施加的力转换为可测量的电信号。
• 读出和显示：重量读数通常以数字形式显示在 LCD 或 LED 屏幕上。显示屏还包括测量单位、皮重功能和校准状态等附加信息。
• 环境控制：分析天平通常具有将外部因素对测量的影响降至最低的功能。这些功能包括保护样品不受气流影响的气流屏蔽或外壳、减少振动影响的防振台以及考虑温度变化的温度补偿机制。

最常用的分析天平会因具体工业天平、应用和个人要求（如最大容量、可读性、准确度以及内置调节、数据连接和用户界面等功能）等因素而有所不同。建议在选择最合适的分析天平之前，先考虑实验室的具体需求、应用以及您的过程要求。请与我们的专家联系，免费申请GWP^® 推荐服务。他们将逐步指导您如何选择适合您需求的分析天平。