痕量金属分析是对样品中非常少量的金属和重金属进行识别和定量分析。虽然在我们的饮食中含有一些微量金属对我们的健康至关重要，但很多金属可能是有毒的，会对人类、动物和植物的健康以及环境产生负面影响。痕量金属分析是用于确保产品符合法律法规要求。在制药、化学和石化行业，痕量金属分析在质量控制中用于识别和测量药品、化肥、化妆品、包装、医疗器械、润滑剂和催化剂等产品中的金属污染物。由于金属可能对不同化学反应产生的影响，痕量金属分析也被用于化学配方研究和改进生产工艺。

测定极少量的铅(PB)、汞(HG)、砷(As)、镉(Cd)、铜(Cu)、镍(Ni)、锌(Zn)等潜在毒性元素杂质需要灵敏度很高的分析设备。根据样品的复杂性（即样品基质）和所使用的分析技术，样品中的金属通常以ppm、ppb甚至ppt（万亿分之一）来测量。痕量金属分析的常用分析方法包括原子吸收光谱法(AAS)、电感耦合等离子发射光谱法(ICP-OES)和电感耦合等离子质谱法(ICP-MS)。

为什么准确称量至关重要

利用ICP分析痕量金属是一个高度灵敏的方法。因此，仔细和准确称量、加样与稀释样品、参比标准液与校正标准液至关重要。使用容量法制备或稀释溶液过程中，移液过程和所用的玻璃容器，如锥形瓶，总是存在一些不可避免的误差。通过重量法制备溶液与稀释溶液具有更高的准确度。

使用光谱法分析痕量金属时，需要为可能存在的每一种金属制备浓度比例与之确切对应的参比标准液。自动完成这些繁琐和重复的任务：本视频展示了如何使用梅特勒托利多的 XPR 自动天平进行重量法自动液体加样，快速、高效和安全地制备样品和参比标准液，以进行痕量金属分析。样品量最多可减少30%，可自动计算并获得准确的浓度。

痕量金属分析需要高度准确的样品溶液以及校准标准液对样品中存在的金属进行识别和定量分析。关于选择满足应用需求的恰当的天平，或者希望确保当前天平满足准确性要求，如果需要任何其他信息，我们的专家团队随时愿意提供帮助。请随时联系我们。 

实验室条件

如果样品和设备被污染，痕量金属分析结果很容易出现错误。因此，实验室内的清洁度是极其重要的，建议在洁净室环境中工作。为了避免可能的污染源，所有表面和设备均应彻底清洁。静电荷必须消除，因为静电可能吸引空气中的污染源，也会导致要加样的粉末散开。在层流通风橱下制备样品有助于最大程度降低空气传播污染的风险，但气流会使灵敏的天平难以稳定。

样品和标准物制备

即使洁净的样品容器和称量勺也可能成为污染源。因此务必尝试最大程度减少样品与其他表面的接触。准确称量对于溶液的精确浓度，从而确保可靠结果来说非常关键。样品和标准液的稀释也是一个耗时且容易出错的过程，取决于容量瓶的使用以及对刻度的主观评估。

工作流程生产率和效率

执行痕量金属分析的公司和实验室通常每天都须处理大量的样品。灵敏度较高的分析过程需要技术熟练的实验室分析人员，他们通常要尽快完成分析来满足客户要求的压力。

带有液体加样模块的梅特勒托利多 XPR 自动定量加样天平使您能够制备高度准确的标准液。自动化重量法既节省时间，又可以提供出色的可重现结果。要获得完整的工作流程解决方案，请将天平与 LabX™ Balance 软件搭配使用，从全面的数据处理和样品跟踪功能中获益。

消除主要的错误源头

重量法标准液制备不但涉及固体物质的称量，还涉及溶剂的称量，因此让您能够制备具有高准确度的特定浓度。天平记录物质的实际重量，用于精确计算达到目标浓度所需的溶剂量。因此，重量法消除了标准液制备过程中的主要错误源头，降低了人工要求，最大程度消除了差异性。另外，仅需一个容器。

最大限度减少样品量

较高的准确度可以保证仅需制备较少的溶液。所需材料减少，因此节省了成本、减少了浪费，最大程度减小了废物处理对环境的影响。

自动计算和记录

将自动液体加样系统与LabX实验室软件进行连接提供了一个完整的工作流程解决方案。它可以将SOP的分步说明显示在天平显示屏上。LabX从参比标准液电子表格中检索纯度，使用实际加样的标准液量自动计算后，添加正确的溶剂量以达到所需浓度。LabX自动处理所有数据，且所有数据均安全存储在中央数据库内，确保完全可追溯性。不再需要手工记录，从而完全避免了抄写错误。

轻松系统集成

标签可以自定义，以包括用户ID、样品ID、实际浓度、生产日期和过期日期。通过连接条形码读取器，可以以电子方式读取样品和参比标准液ID。如果添加打印机，则可以自动打印标签。导入/导出选项则允许将数据在现有网络、数据归档、LIMS、ERP和其他知识管理系统之间进行双向传输。 

XPR 分析天平适用于需要卓越准确性、极具挑战性的称量应用。

降低污染风险

ErgoClip Flask选件让您能够直接向容量烧瓶中进行加样。污染风险得以大幅降低，避免了转移错误，加样也变快很多。完整的防风罩和秤盘几秒之内即可轻松拆除，下面的托盘可以轻松滑出，便于清洁。无需任何工具，所有零部件均可使用洗瓶机。无接触操作进一步帮助最大程度降低污染风险。

去除静电并避免称量误差

容器和样品，尤其是粉末非常容易在正常处理期间带上静电荷。StaticDetect™会对由于静电产生的称量误差进行测量，如果超过阈值则发出警告。结合去静电配件，您将拥有一个独特的解决方案，保证无静电称量。

提高生产效率

在天平上保存自己的称量应用，通过方法库即可启动。快速简单，每个分析人员均遵循相同的程序。XPR分析天平具有快速出结果、从开始就正确的质量保证功能和自动化选件，可以帮助您提高处理量，降低成本。

更轻松的数据管理

重量结果可直接保存在内置的结果协议中，避免了人工抄写。多种连接选项（USB、Ethernet）让您的数据能够通过数字方式传输至现有的信息系统。