Informatiegids

Compacte, supersnelle en nauwkeurige detectie van verontreinigingen

Informatiegids

Voor kleine producten in individuele verpakkingen

eGuide over het X34C X-ray inspectiesysteem
eGuide over het X34C X-ray inspectiesysteem

Deze eGuide introduceert het X34C compacte X-ray inspectiesysteem dat geschikt is voor de detectie van verontreinigingen in kleine, individueel verpakte producten. De informatiegids bespreekt de drie principes waarop het ontwerp van de X34C is gebaseerd:

  • Compacte afmetingen
  • Supersnelle inspectie
  • Nauwkeurige prestaties

Dankzij het compacte ontwerp kan het systeem eenvoudig in volle productieruimtes worden geïnstalleerd die te klein zijn voor andere systemen. De supersnelle functies van het systeem maken het mogelijk om dit systeem in moderne, snelle productielijnen te integreren, zonder dat het productieproces wordt vertraagd. De nauwkeurige prestaties zijn mogelijk dankzij de hulpmiddelen die de operators gebruiken om de machine goed in te stellen. De nauwkeurigheid van de X34C betekent dat verontreinigingen in kleine, individueel verpakte producten worden gedetecteerd. De informatiegids legt uit welke voordelen deze drie principes voor de gebruiker hebben.

De eGuide beschrijft ook het serviceaanbod van METTLER TOLEDO, zoals het wereldwijde ondersteuningsnetwerk en de uitgebreide onderhoudsschema's waarmee het systeem draaiende wordt gehouden en de ongeplande downtime tot een minimum wordt beperkt. In de inspectiegids komt ook de productiviteits- en bewakingssoftware ProdX™ aan bod, die dienst doet als een centrale hub voor toegang tot alle verzamelde productinspectiedata.