Analyzer EasyViewer 100 System
실시간 입자 확인 및 측정.EasyViewer 100 시스템 구성
새로운 실험적 통찰력
입자들을 현장에 있는 그대로, 이전에는 포착할 수 없었던 세부사항까지 고화질 이미지로 촬영할 수 있어 프로세스에 새로운 통찰력을 불어넣어줍니다.
강력한 분석 기능
iC Vision의 이미지 분석 기법을 이용하여 EasyViewer를 강력한 분석기로 변화시켜 입자의 크기와 모양을 분석하십시오. 입자를 더욱 빨리 고안할 수 있습니다.
혁신적인 가용성
날렵하고 가벼운 프로브와 플러그앤플레이 연결 및 스마트 소프트웨어로 100mL 미만 크기에서 셋업과 자동화 데이터 캡쳐가 쉽습니다.
Material No.: 14000210
특징
새로운 실험적 통찰력
입자의 이미지를 현장에서 고화질로 캡쳐할 수 있어 복잡한 시스템에 대한 프로세스 이해도가 깊어집니다. 결정화, 부유액, 에멀젼에서 이전에는 포착할 수 없던 세부 사항을 연구하여 프로세스 개발에 힘을 실어 줄 새로운 통찰력을 경험할 수 있습니다.
강력한 분석 기능
iC Vision의 이미지 분석 기법을 이용하여 EasyViewer를 강력한 분석기로 변화시켜 입자의 크기와 모양을 분석하십시오. 프로세스 변화를 모니터링하고 입자의 크기와 모양을 맞춤화된 알고리즘으로 수량화할 수 있습니다. 이미지를 사용하여 결과를 검증하십시오. 입자를 더욱 빨리 고안하십시오.
혁신적인 가용성
날렵하고 가벼운 프로브와 플러그앤플레이 연결 및 스마트 소프트웨어로 100mL 미만 크기에서 셋업과 자동화 데이터 캡쳐가 쉽습니다. 스마트 기기 컨트롤로 수동 조작을 하지 않아도 됩니다. 시간을 절약하고 생산성을 제고합니다.
자신있게 배치 가능
EasyViewer는 자주 사용할 수 있도록 고안되었으며 15분간의 교육으로 뛰어난 정보를 얻을 수 있도록 설계되었습니다. 전체적인 예방적 유지 보수는 현장에서 1년에 한 번 이루어지므로 야근 없이 가용 시간을 최대로 누릴 수 있습니다.
사양
사양 - Analyzer EasyViewer 100 System
| Probe Wetted Material | Gold 하스텔로이(Hastelloy) C22 |
| Probe Window Material | Sapphire |
| Probe Wetted Temperature Range | –20 to 135 °C |
| Probe Back End Temperature Range–: | 0 °C – 35 °C |
| Probe Wetted Pressure Range | 0 bar (full vacuum) to 3 barg |
| Certifications | CE/NRTL Approved, Class 1 Laser Device, Compliant with 21CFR1040.10 and 1040.11 and IEC 60825-1 |
| For Use In | 실험실 |
| 소프트웨어 | iC Vision |
| Imaging System | Front Lasers: Backscattered Images |
| Illumination | Front Lasers: 6 |
| Probe Window Seals | Markez® O-Ring |
| Probe Diameter | 9.5mm |
| Probe Wetted Length | 199mm |
| Conduit Length | 3m [9.8ft] |
| Field of View | 1000 μm x 1000 μm |
| Optical Resolution | > 1.5 μm |
| Image Resolution | 1480 x 1480 pixels |
| 중량 | 660 g |
| Air Requirements | 없음 |
| Power Requirements | Via USB 3.0 on control pc +5 VDC, 1.7 A (maximum) Via USB 3.0 powered extender 100-240 VAC (auto-switching), 50/60 Hz, 1.7 A |
| 455nm |
문서
데이터 쉬트
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