通過梅特勒-托利多服務提升您的半導體過程
我們深知,精確性和可靠性在您的工作中至關重要,我們的解決方案旨在為您的每一步提供支援。我們的團隊致力於讓您的設備平穩運行,以便您可以專注於最重要的事情 - 取得突破性的成果。讓我們共同努力,加強您的工作並推動半導體領域的創新。


下一代器件需要具有更高性能和效率的新型半導體材料。研究人員主要關注:
隨著半導體器件的不斷縮小和複雜性的增加,先進的封裝技術變得至關重要。 使用高效材料可確保粘合劑和封裝劑的質量始終如一,實現可靠的連接並保護敏感元件,這對於系統級封裝 (SiP) 和異構集成應用至關重要。
控制粘合劑和封裝劑的 pH 值對於確保其有效性、穩定性以及與 SiP 和異構集成應用中其他材料和元件的相容性至關重要。
優化封裝材料的熱性能可確保其在各種環境中的穩定性和性能,從而影響汽車、航空航太和消費電子產品中使用的設備的長期可靠性。
保證封裝膠和其他材料適用於先進封裝解決方案,有助於開發堅固耐用的小型化器件。
可靠性是半導體製造中的一個關鍵因素,特別是對於需要長期性能的應用。研發團隊專注於:
預測性可靠性評估:評估材料的熱穩定性和行為以預測長期可靠性,這對於醫療設備、汽車電子和工業控制系統中的應用至關重要。
準確的樣品製備:精確的樣品測量對於保持可靠性評估的準確性至關重要,這支持開發能夠承受嚴格操作條件的元件。
痕量有機污染物的檢測:檢測用於半導體材料製備的溶劑溶液中的痕量有機污染物可確保半導體器件的性能和可靠性。
物理特性分析:評估水分含量和其他物理特性以防止降解並確保材料可靠性,對於暴露於不同環境條件下的器件尤為重要。
梅特勒托利多致力於通過提供突破性創新所需的工具和專業知識來推進半導體研發。無論是開拓新材料和封裝解決方案,還是確保半導體器件的可靠性,我們的解決方案都支援該行業最關鍵的應用。
探索旨在推進半導體研發的尖端儀器,確保材料和設備開發的精度、可靠性和創新性。
利用我們完整一系列儀器、強大的軟體,和各式各樣的配件及坩堝,進行材料特性解析。
顆粒特性解析、反應分析、反應量熱儀、實驗室反應器、粒度分佈分析、PAT
高性能分析稱量:準確可靠的分析天平和微量分析天平,用於精確稱量小型、貴重和稀有樣品。
我們高度通用的精密天平,容量高達 64 kg,可讀性從 1 mg 起,可在實驗室和製造過程中提供準確、可靠的稱量結果。
超微量天平、微量天平和微量分析天平提供了無與倫比的準確性和極低的最小重量,可用來對最小的樣品進行稱重。
Automate weighing in your lab for enhanced throughput and safety: powder and liquid dispensing, caps...
電化學系統可為實驗室內外應用提供準確的酸鹼值、電導度、離子、氧化還原電位 (ORP)/氧化還原和溶氧測量值。
梅特勒-托利多的滴定解決方案通過自動滴定儀、卡爾費休滴定儀、高級電極、軟體和必要的自動化附件提高實驗室通量。
使用我們的熔點儀獲得快速準確的結果。在一台設備上確定熔點、沸點、濁點和滑動熔點。
使用我們的自動滴點儀和創新的樣品製備工具獲得快速準確的結果。
瞭解我們的紫外可見分光光度法產品系列,包括值得信賴的儀器、智慧配件和自動化、可靠的服務和合規軟體。
桌上型與便攜式折光儀可在較短的測量時間內,以高精確度測量折射率及其他相關值 (白利糖度、高果糖糖漿等)。
高準確度數位密度計,適用各種應用。專為在實驗室中、生產線附近或儲存與接收區中的使用而設計。
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