梅特勒托利多服务 帮助您优化半导体制造过程
我们深知精确性和可靠性在您的工作中至关重要,我们的解决方案也旨在为您提供支持。我们的团队致力于让您的机台平稳运行,以便您可以专注于最重要的事情 - 取得突破性的成果。让我们共同努力,助力您的工作,推动半导体领域的创新。


下一代器件需要具有更高性能和效率的新型半导体材料。研究人员正在关注以下方面:
随着半导体器件的制程不断缩小且复杂性持续增加,先进封装技术变得至关重要。使用高性能材料可确保粘合剂和封装材料的质量始终如一,确保可靠的连接,保护敏感元件,这对于系统级封装 (SiP) 和异构集成应用至关重要。
控制粘合剂和封装材料的 pH 值对于确保其在 SiP 和异构集成应用中的有效性、稳定性以及与其他材料和组件的兼容性至关重要。
优化封装材料的热性能可确保其在各种环境中的稳定性和性能,从而确保汽车、航空航天和消费电子产品中使用的设备的长期可靠性。
保证封装胶和其他材料适用于先进封装解决方案,有助于开发坚固耐用的小型化器件。
可靠性是半导体制造中的一个关键因素,特别是对于需要耐久性的应用。研发团队专注于以下方面:
预测性可靠性评估:评估材料的热稳定性行为以预测长期可靠性,这对于医疗设备、汽车电子和工业控制系统中的应用至关重要。
精确的样品制备:精确的样品测试对于保持可靠性评估的准确性至关重要,这有助于开发能够承受严格操作条件的组件。
痕量有机污染物的检测:检测用于半导体材料制备的溶剂溶液中的痕量有机污染物可确保半导体器件的性能和可靠性。
物理特性分析:评估水分含量和其他物理特性以防止分解,确保材料可靠性,对于暴露于不同环境条件下的器件尤为重要。
梅特勒托利多致力于通过提供突破性创新所需的产品和专业知识来推进半导体研发。无论是开拓新材料和封装解决方案,还是确保半导体器件的可靠性,我们的解决方案都支持半导体行业最关键的应用。
用于推进半导体研发的尖端仪器,确保材料和器件开发的精度、可靠性和创新性。
使用我们全面的仪器组合、功能强大的软件以及多种配件和坩埚进行材料表征。
颗粒表征, 反应分析, 反应量热仪, 实验室反应器, 粒径分布分析, PAT
高精度分析天平:精确可靠的分析天平和微量分析天平,用于精密称重小型、贵重和稀有样品。
我们的高精度天平用途广泛,称重能力高达 64 公斤,可读性从 1 毫克起,可为实验室和制造业提供精确、可靠的称重结果。
超微量天平、微量天平和微量分析天平具有良好的准确性和极低的最小称量值,适用于称量少量样品。
实现实验室自动化称量,以提高处理量与安全性:粉末与液体加样、胶囊灌装、滤纸称量等。
电化学系统可以为实验室和现场应用提供准确的pH、电导率、离子、ORP与溶解氧测量结果。
梅特勒托利多的滴定解决方案通过自动滴定仪、卡尔费休滴定仪、高级电极、软件和必要的自动化软件提高实验室通量和效率。
使用我们的熔点仪获得快速准确的结果。在一台设备上确定熔点、沸点、浊点和滑动熔点。
使用我们的自动滴点仪和创新的样品制备工具获得快速准确的结果。
了解我们的紫外可见分光光度法产品系列,包括值得信赖的仪器、智能配件和自动化、可靠的服务和合规软件。
台式和便携式折光率仪可测量折光率和其它相关参数(例如,白利糖度、HFCS等),精度高,耗时短。
用于多种应用的准确数字型密度计。经过设计适用于实验室、生产线附近或仓储及进料区域。
我们深知精确性和可靠性在您的工作中至关重要,我们的解决方案也旨在为您提供支持。我们的团队致力于让您的机台平稳运行,以便您可以专注于最重要的事情 - 取得突破性的成果。让我们共同努力,助力您的工作,推动半导体领域的创新。
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