带非接触式传感器的分析天平

通过免提编程保持实验室的卫生和准确性

带有非接触式传感器的分析天平是一种精密称量仪器,它结合了分析天平的准确性和免提操作的便利性和卫生性。梅特勒-托利多提供一系列强大的分析天平,可实现可定制的非接触式使用,最大限度地降低交叉污染风险,防止不必要的天平残留,同时保持最高水平的准确度和样品完整性。

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