带有非接触式传感器的分析天平是一种精密称量仪器,它结合了分析天平的准确性和免提操作的便利性和卫生性。梅特勒-托利多提供一系列强大的分析天平,可实现可定制的非接触式使用,最大限度地降低交叉污染风险,防止不必要的天平残留,同时保持最高水平的准确度和样品完整性。
通过购买梅特勒-托利多天平,您可以从我们广泛的服务中受益,并创建适合您精确需求的定制套餐。 阅读更多
得益于巧妙的设计功能,例如快速释放的防风罩和悬挂式秤盘,分析天平的清洁既快速又简单。 阅读更多
使用我们的EasyDirect™天平数据管理软件,用于高级和标准级分析天平,简化结果处理和记录。 阅读更多
一系列防静电套件和附件,用于检测和消除样品和称量容器中的静电荷。 阅读更多
有关如何执行常规天平测试的免费指南。了解多久测试一次,如何测试,以及使用哪些砝码来确保正确的平衡功能。 阅读更多
本指南将帮助您了解影响称量准确度的主要因素,以及如何通过避免使用实验室天平时的基本错误来获得可靠的称量结果。 阅读更多
梅特勒-托利多制定了全球公认的良好称量管理规范™ (GWP®) 标准。只需 3 个简单步骤即可了解其工作原理。 阅读更多
天平校准和不确定度评估是测量精度的关键。然而,天平测试和校准是一项高度可变的活动,取决于各个过程允差以及结果不准确的潜在负面影响。 阅读更多
梅特勒-托利多为您提供量身定制的服务解决方案,不受行业、环境和法规的影响。 阅读更多