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该白皮书介绍了一些较常见的颗粒粒径分析方法以及如何应用这些方法，以便有效地提供高品质的颗粒产品。 尤其是，科学家现在能够将离线颗粒粒径分析仪与过程中颗粒表征仪器相结合，以优化和改进工艺。nbsp2] 所给出的示例证明这种综合方法使科学家能够：
- 通过直接测量颗粒粒径变化并将其视为工艺参数变化来详细了解工艺
- 确定所需的操作条件，以始终如一地提供符合使用目的的颗粒
- 在连续或批量生产过程中监测并纠正工艺偏差
- 避免与取样、制样和离线分析有关的延时和误差
常见应用包括：结晶、乳化、悬浮液、絮凝、分散、混匀、湿法研磨、聚合、微型胶囊、油水分离、分解和溶解。